JEDEC 发布首份全行业硅光子学（SiPh）可靠性标准 JESD264

JEDEC 发布首份全行业硅光子学（SiPh）器件认证和可靠性标准 JESD264，为硅光芯片和集成芯片组提供组件级鉴定指南。该标准建立测试与制造控制的通用基准，明确代工厂、外包封测与系统开发商之间的可靠性责任，支持激光器、调制器、光电二极管和无源光学结构的集成，有助于降低部署风险并推动硅光技术在高速数据中心、电信和人工智能网络中的应用。